RFP测头RENISHAW*点密度的表面数据片区

在五轴坐标测量机测量平台上完成结构光检测

RFP测头在雷尼绍现有产品系列的基础上新增非接触式结构光检测技术，增强了REVO系统的多类型传感器功能。雷尼绍坐标测量机产品现有五个不同的可互换测头系列，每个系列均经过专门设计，以充分发挥REVO系统的五轴运动和无级定位优势。

RFP测头可检测自由曲面和复杂几何形状，并快速提供具有*点密度的表面数据片区。

RFP的特性与优点

• 与其他非接触式结构光检测系统不同，RFP测头不需要通过参考标记整合从工件不同区域采集的数据，而是由REVO系统自动整合数据。
• 自动曝光补偿功能可确保针对不同材料、表面颜色和纹理的工件均可获得数据结果，无需使用亚光物质涂覆工件。
• 两个简单易用的软件工具可提供检测路径规划和数字化采集功能。
• • RFP检测规划器用于路径规划以及从CAD生成DMIS工件程序。
  • RFP数据采集器软件用于在没有CAD模型的情况下采集工件数据，以便进行逆向工程。

RFP能够以*采集速率提供高密度数据，从而实现对表面轮廓的高精度测量。

首先，测头在工件表面上投射一个条纹图案；然后，测头上的摄像机采集条纹图案的变化，用于生成一个3D表面的高密度数据点云；后，3D测量软件评估数据云，得出检测结果。

RFP测头由REVO五轴测量技术支持，可在无级定位坐标测量机平台上提供高精度测量结果。所有REVO传感器采集的数据均会自动参照同一基准，并与所有其他REVO-2传感器采集的数据合并，以在同一台坐标测量机上实现工件检测能力。