省去测座旋转定位时间PH20五轴Renishaw

当以5 mm/s - 10 mm/s的速度扫描50 mm环规时，一般形状误差小于10 µm（过滤），直径误差为5 µm。当检测相同的环规时，触发式测量通常产生3 µm形状和直径误差。

 可从REVO的A轴旋转中心轴向延长达800 mm，侧向延长达600 mm。

 长加长杆与五轴运动相结合，可以更好地触测工件；多传感器交互功能，增强了灵活性。

传统触发测量方法依靠加快坐标测量机的三轴运动速度进行快速测量，PH20与之不同，它采用为REVO系统（曾获得多项殊荣）开发的测座运动技术，可在较高的测量速度下将坐标测量机的动态误差降至。

PH20*的“测座碰触”可以仅通过移动测座而不是坐标测量机结构，来采集测量点。可以更快地采集测量点，并且提高了精度和可重复性。

此外，五轴联动可省去测座旋转定位时间。综合上述因素，这些速度的显著提高使得新系统的测量效率比传统系统提高了两倍。

为PH20开发的*“推论标定”技术可一次确定测座方向和测头位置，从而实现以任意测座角度完成后续测量。其他模块在使用之前，只需简单在标准球上测量几个点即可。（如果需要提高测量精度，可循待测特征的方向单独进行测尖校正）。

由于为符合质量管理程序或在测头碰撞后，定期重复进行标定过程，因此日积月累，可以节省大量的时间。